Detaillierte Informationen

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Betriebsstunden
Einschaltstunden
Zustand gut
CE-Norm ---------
Status zu besichtigen

Beschreibung

Fischerscope X-Ray XDVM-W Auflagendickenmessgerät


Typ: XDVM-T7-W

System X-RAY Modell

Gerät nach CE-Norm

Baujahr 2004

Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W ist in der Lage, die Schichtdicke und die Legierungszusammensetzung aller metallischen Beschichtungssysteme zu messen, einschließlich einfacher, binärer und ternärer Legierungsschichten, Doppelschichten mit oder ohne Legierungsschicht und Dreifachschichten.

Bitte beachten Sie, dass diese Beschreibung automatich übersetzt wurde. Für weitere Informationen stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung. Die Angaben in dieser Anzeige sind unverbindlich. Wir empfehlen, die Details vor einem Kauf mit dem Verkäufer zu überprüfen.


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Art von Kunde Händler
1. Registrierung 2016
Online Angeboten 18
Letzte log in 10. Juli 2024

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Fischerscope X-Ray XDVM-W Auflagendickenmessgerät


Typ: XDVM-T7-W

System X-RAY Modell

Gerät nach CE-Norm

Baujahr 2004

Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W ist in der Lage, die Schichtdicke und die Legierungszusammensetzung aller metallischen Beschichtungssysteme zu messen, einschließlich einfacher, binärer und ternärer Legierungsschichten, Doppelschichten mit oder ohne Legierungsschicht und Dreifachschichten.

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Fischerscope X-Ray XDVM-W