Hersteller Hiden
Typ AutoSIMS
Baujahr 2014
Standort Frankreich FR
Kategorie Analysegeräte
Produkt ID P00116045

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Detaillierte Informationen

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Länge x Breite x Höhe - × - × -
Gewicht-
Betriebsstunden
Einschaltstunden
Zustand gut
CE-Norm ---------
Status zu besichtigen

Beschreibung

Hiden Analytical hat mit AutoSIMS ein vollautomatisches Oberflächenanalysesystem entwickelt, ein innovatives Sekundärionen-Massenspektrometer (SIMS), mit dem routinemäßige und sich wiederholende Analysen bei unbeaufsichtigtem Betrieb durchgeführt werden können. Mit einem vollautomatisierten XY-Schritt und umfassender Unterstützung kann AutoSIMS von Hiden Hunderte von Prozessen pro Tag im ununterbrochenen 24-Stunden-Betrieb ausführen.

Hiden Analytical hat sich auf SIMS-Instrumente für nanoskalige Tiefenprofile und quantitative Oberflächenanalysen vieler verschiedener Probentypen spezialisiert, von kompletten Workstations bis zu kompakten SIMS-Lösungen. Das AutoSIMS enthält die gleiche langlebige Primärionenkanone mit Sauerstoffquelle und den gleichen MAXIM-Analysator wie die gesamte SIMS-Produktreihe von Hiden, zusätzlich mit einem modularen Kassetten-Probenhalter und einer softwaregesteuerten XY-Probenahmestufe. Dies ist die Basis für die zuverlässige Erfassung relevanter Oberflächenspektren und dreidimensionaler (3D) Tiefenprofile ohne menschliches Eingreifen.

Die lange Lebensdauer der Ionenkanone stellt sicher, dass über lange Betriebszeiten ein konstant hochstabiler Strahl erzeugt wird, sodass der Kassettenhalter und der Probentisch kontinuierliche Probendosen für die Chargenanalyse mit hohem Durchsatz bereitstellen können. Selbst Anfänger können das automatische Oberflächenanalysesystem programmieren, indem sie die experimentelle Parametermatrix über ein einfaches Tabellenkalkulationsprogramm optimieren.

AutoSIMS von Hiden Analytical

Das automatische Oberflächenanalysesystem AutoSIMS von Hiden kann unabhängig voneinander statische und dynamische SIMS-Analysen mit einer Tiefenauflösung von Nanometern durchführen. Es kann auch im manuellen Modus ausgeführt werden, wenn erfahrene Benutzer alle technischen Möglichkeiten nutzen möchten.

Eigenschaften:
Vollautomatische und unbeaufsichtigte SIMS-Analyse
Großer Probentisch XY
Sauerstoffpistole für empfindliche Analyse
Anpassbarer Probenhalter in Kassettenform
Parameter können über eine Tabelle angegeben werden.
3D-Charakterisierung
Nanometer-Tiefenauflösung
Modulare Wartung für hohe Betriebszeiten


Bitte beachten Sie, dass diese Beschreibung automatich übersetzt wurde. Für weitere Informationen stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung.

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