Nanometrics Nanospec AFT2100 Schichtdickenmesssystem Verifizierter Verkäufer

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Hersteller Nanometrics
Typ Nanospec AFT2100
Baujahr
Standort USA US
Kategorie Halbleiter - Messgeräte
Produkt ID P240314063
Sprache

Detaillierte Informationen

Software
-------------------
Betriebsstunden
Einschaltstunden
Zustand gut
CE-Norm ---------
Status

Beschreibung

Schichtdicke von 100A auf 50 Mikrometer
Aufgerüstet auf neue Olympus MS Plan unendlich korrigierte 5x/10x/50x-Objektive mit neuem Vertikalilluminator
Spotgröße 6,5um bis 65um
Wellenlängenbereich 400-800nm
16 Standard-Filmtests
spezielle Filme können durch Eingabe des Brechungsindexes gemessen werden
Überholt von Nanometrics werksgeschulten Technikern März 2022

Bitte beachten Sie, dass diese Beschreibung automatich übersetzt wurde. Für weitere Informationen stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung. Die Angaben in dieser Anzeige sind unverbindlich. Wir empfehlen, die Details vor einem Kauf mit dem Verkäufer zu überprüfen.


Art von Kunde Händler
1. Registrierung 2019
Online Angeboten 43
Letzte log in 20. August 2024

Beschreibung

Schichtdicke von 100A auf 50 Mikrometer
Aufgerüstet auf neue Olympus MS Plan unendlich korrigierte 5x/10x/50x-Objektive mit neuem Vertikalilluminator
Spotgröße 6,5um bis 65um
Wellenlängenbereich 400-800nm
16 Standard-Filmtests
spezielle Filme können durch Eingabe des Brechungsindexes gemessen werden
Überholt von Nanometrics werksgeschulten Technikern März 2022

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Bezüglich der/die Besitzer /in

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