Detaillierte Informationen

Typ Leiterplatte (PCB)
-------------------
Betriebsstunden
Einschaltstunden
Zustand gut
CE-Norm ---------
Status

Beschreibung

Spea 3030IL Dual Bay in ausgezeichnetem Zustand.
Jahrgang 2006

Der 3030IL ist der vollautomatische Nagelbetttester, der speziell dafür entwickelt wurde, die Testkosten zu minimieren und einen beispiellosen Durchsatz bietet, ohne dass der Bediener die Leiterplatte laden oder den Test durchführen muss. Er kann schnell in SMEMA-Produktionslinien integriert oder mit standardmäßigen automatischen Leiterplattenladern/-entladern verwendet werden. Der modulare und vollständig aufrüstbare 3030IL kombiniert eine breite Palette von Testfunktionen in einem einzigartigen, integrierten, durchsatzstarken und kostengünstigen System.

Hauptmerkmale:
4-facher Durchsatz mit 4-Core-Architektur
Keine Bedienerkosten
Ultraschnelle Handhabung in 3 Sekunden
5000+ Tests/Sek.
Automatische Testprogrammerstellung
Parallele Programmierung von ICs unterschiedlichen Typs

Spezifikationen:

Testkern
Anzahl der Kerne:
Konfiguration - Kerne x Kanäle
Analoge Kanäle - Eigenschaften
Digitale Kanäle - Anzahl
Digitale Kanäle - Eigenschaften

Messfähigkeit
Widerstandsbereich - 1mΩ - 1GΩ
Induktivitätsbereich - 1µH - 1H
Kapazitätsbereich - 0,5pF ÷ 1F

Testtyp
Elektrischer Test
ICT (In-Circuit Test): Ja
Hochleistungs-Funktionstest: Ja
Open Pin Scan Ja 15°C ÷ 32°C
Power-On-Test Ja
Funktionstest: Ja
Flashing über On-Board-Programmierung: Ja
Offen / Kurz:: Ja
Boundary Scan Ja

Andere Tests
LED-Farb- und Intensitätstest: Optional

Instrumente an der Schnittstelle
Paralleler Test: Ja

Schnittstelle
Zif-Version: Ja

Umweltanforderungen
Transporttemperaturbereich: -25°C ÷ +55°C
Umgebungstemperaturbereich: 15°C ÷ 32°C
Messtemperatur: 15°C ÷ 32°C
Feuchtigkeitsbereich: ≥20% ÷ ≤70%

Systemspezifikation
Hauptabmessungen des Gehäuses (L x B x H): 900 x 970 x 1737 mm

Bitte beachten Sie, dass diese Beschreibung automatich übersetzt wurde. Für weitere Informationen stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung. Die Angaben in dieser Anzeige sind unverbindlich. Wir empfehlen, die Details vor einem Kauf mit dem Verkäufer zu überprüfen.


Art von Kunde Händler
1. Registrierung 2019
Online Angeboten 48
Letzte log in 4. November 2024

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Spea 3030IL Dual Bay in ausgezeichnetem Zustand.
Jahrgang 2006

Der 3030IL ist der vollautomatische Nagelbetttester, der speziell dafür entwickelt wurde, die Testkosten zu minimieren und einen beispiellosen Durchsatz bietet, ohne dass der Bediener die Leiterplatte laden oder den Test durchführen muss. Er kann schnell in SMEMA-Produktionslinien integriert oder mit standardmäßigen automatischen Leiterplattenladern/-entladern verwendet werden. Der modulare und vollständig aufrüstbare 3030IL kombiniert eine breite Palette von Testfunktionen in einem einzigartigen, integrierten, durchsatzstarken und kostengünstigen System.

Hauptmerkmale:
4-facher Durchsatz mit 4-Core-Architektur
Keine Bedienerkosten
Ultraschnelle Handhabung in 3 Sekunden
5000+ Tests/Sek.
Automatische Testprogrammerstellung
Parallele Programmierung von ICs unterschiedlichen Typs

Spezifikationen:

Testkern
Anzahl der Kerne:
Konfiguration - Kerne x Kanäle
Analoge Kanäle - Eigenschaften
Digitale Kanäle - Anzahl
Digitale Kanäle - Eigenschaften

Messfähigkeit
Widerstandsbereich - 1mΩ - 1GΩ
Induktivitätsbereich - 1µH - 1H
Kapazitätsbereich - 0,5pF ÷ 1F

Testtyp
Elektrischer Test
ICT (In-Circuit Test): Ja
Hochleistungs-Funktionstest: Ja
Open Pin Scan Ja 15°C ÷ 32°C
Power-On-Test Ja
Funktionstest: Ja
Flashing über On-Board-Programmierung: Ja
Offen / Kurz:: Ja
Boundary Scan Ja

Andere Tests
LED-Farb- und Intensitätstest: Optional

Instrumente an der Schnittstelle
Paralleler Test: Ja

Schnittstelle
Zif-Version: Ja

Umweltanforderungen
Transporttemperaturbereich: -25°C ÷ +55°C
Umgebungstemperaturbereich: 15°C ÷ 32°C
Messtemperatur: 15°C ÷ 32°C
Feuchtigkeitsbereich: ≥20% ÷ ≤70%

Systemspezifikation
Hauptabmessungen des Gehäuses (L x B x H): 900 x 970 x 1737 mm

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