Beschreibung
Spea 3030IL Dual Bay in ausgezeichnetem Zustand.
Jahrgang 2006
Der 3030IL ist der vollautomatische Nagelbetttester, der speziell dafür entwickelt wurde, die Testkosten zu minimieren und einen beispiellosen Durchsatz bietet, ohne dass der Bediener die Leiterplatte laden oder den Test durchführen muss. Er kann schnell in SMEMA-Produktionslinien integriert oder mit standardmäßigen automatischen Leiterplattenladern/-entladern verwendet werden. Der modulare und vollständig aufrüstbare 3030IL kombiniert eine breite Palette von Testfunktionen in einem einzigartigen, integrierten, durchsatzstarken und kostengünstigen System.
Hauptmerkmale:
4-facher Durchsatz mit 4-Core-Architektur
Keine Bedienerkosten
Ultraschnelle Handhabung in 3 Sekunden
5000+ Tests/Sek.
Automatische Testprogrammerstellung
Parallele Programmierung von ICs unterschiedlichen Typs
Spezifikationen:
Testkern
Anzahl der Kerne:
Konfiguration - Kerne x Kanäle
Analoge Kanäle - Eigenschaften
Digitale Kanäle - Anzahl
Digitale Kanäle - Eigenschaften
Messfähigkeit
Widerstandsbereich - 1mΩ - 1GΩ
Induktivitätsbereich - 1µH - 1H
Kapazitätsbereich - 0,5pF ÷ 1F
Testtyp
Elektrischer Test
ICT (In-Circuit Test): Ja
Hochleistungs-Funktionstest: Ja
Open Pin Scan Ja 15°C ÷ 32°C
Power-On-Test Ja
Funktionstest: Ja
Flashing über On-Board-Programmierung: Ja
Offen / Kurz:: Ja
Boundary Scan Ja
Andere Tests
LED-Farb- und Intensitätstest: Optional
Instrumente an der Schnittstelle
Paralleler Test: Ja
Schnittstelle
Zif-Version: Ja
Umweltanforderungen
Transporttemperaturbereich: -25°C ÷ +55°C
Umgebungstemperaturbereich: 15°C ÷ 32°C
Messtemperatur: 15°C ÷ 32°C
Feuchtigkeitsbereich: ≥20% ÷ ≤70%
Systemspezifikation
Hauptabmessungen des Gehäuses (L x B x H): 900 x 970 x 1737 mm
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