Artec Eva Prüf- und Messgerät

Baujahr: 2018

3D-Scanner zum schnellen Erstellen von texturierten und genauen 3D-Modellen mittelgroßer Objekte. Es scannt schnell und erfasst präzise Messungen in hoher Auflösung. Es ist eine hervorragende Allround-Lösung zum Erfassen von Objekten fast aller Art, einschließlich Objekten mit schwarzen und glänzenden Oberflächen. Preis ist inklusive SW Atrec Studio.

X-TEK Systems LTD. X-TEK Revolution Prüf- und Messgerät Hot deal

Baujahr: 2005

X-TEK Systems LTD, England, Übertragungsziel-Röntgensystem zum Verkauf. Komplettes und funktionsfähiges System, bereit für die Arbeit. Röntgenquelle: 160 kV, 20 W, 2 Mikron TT. 5-Achsen-Manipulatorsystem. Sehr ordentlich und sauber, wurde in einer Laborumgebung verwendet, Reinraumnutzung. Vorherige Verwendung: zur Inspektion von SMT-Leiterplatten. Die Maschine wurde im Jahr 2020 vollständig renoviert (neue Dichtungen, neue Filamente, gereinigt und von einem Expertenteam geprüft).

Hioki IM3590 Prüf- und Messgerät

Baujahr: 2017

Analizator impedancji IM3590 jest zaawansowanym testerem komponentów szczególnie przydatnym do pomiarów impedancji elektrochemicznej i zawiera wiele funkcji graficznych, które są potrzebne do testowania baterii i materiałów chemicznych. Der Impedanzanalysator IM3590 ist ein fortschrittlicher Komponententester, der sich besonders für elektrochemische Impedanzmessungen eignet und eine Vielzahl von Grafikfunktionen enthält, die für die Prüfung von Batterien und chemischen Materialien benötigt werden. Messmodi LCR-Modus, …

Finetech FINEPLACER -96 "LAMBDA" Basismodul + Die-Flip- & Die-Pick-up-Modul + UV-Loctite

Baujahr:

Basismodul + Die-Flip- & Die-Pick-up-Modul + UV-Loctite Die komplett überarbeitete Tisch-Die-Bonding-Plattform lässt sich einfach für eine Vielzahl von Anwendungen konfigurieren Prozessentwicklung oder Prototyping. Zahlreiche Prozessmoduloptionen und Vor-Ort-Nachrüstmöglichkeiten garantieren maximale technologische Flexibilität des Tisch-Die-Bonders zum Schutz Ihrer Investition angesichts ständiger Veränderungen Herausforderungen. Durch das ergonomische Maschinendesign und die softwaregestützte Benutzerführung des Table Top Flip Chip Bonders wird der Anwender bleibt im …

HP/AGILENT N5230A + N4433A Port-Netzwerkanalysator

Baujahr:

Port-Netzwerkanalysator Agilent-N5230A 300 kHz bis 20 GHz, 4-Port-Netzwerkanalysator Der Keysight (Agilent) PNA-L Vektornetzwerkanalysator ist ein Mitglied der Netzwerkanalysatorplattform der PNA-Serie und wurde für Ihre allgemeinen Netzwerkanalyseanforderungen entwickelt. Erweiterte Funktionen helfen Ihnen, schnell, einfach und effizient zu arbeiten genau. Mit der gleichen Firmware wie der PNA bietet der PNA-L die perfekte Balance zwischen Wert und Leistung. PNA-L bietet Effizienz und Flexibilität …

HP/AGILENT 4156C Präzisions-Halbleiterparameteranalysator & 41501B

Baujahr:

Präzisions-Halbleiterparameteranalysator Der Keysight 4156C Precision Semiconductor Parameter Analyzer ist eine hochpräzise Labor-Tischlösung für die erweiterte Gerätecharakterisierung. Der Expander 41501B erweitert Ihre Möglichkeiten auf 1 A/200 V und fügt ein geringes Rauschen hinzu Bodeneinheit und Doppelimpulsgeneratoren auf dem 4156C Allgemeine Merkmale  Hochpräziser Labor-Tischparameteranalysator für erweiterte Gerätecharakterisierung  4x hochauflösende SMU, 2xVSU und 2xVMU  Füllen Sie die Lücken im Frontpanel-Betrieb …

LUCEO PARALLEX Bitfehlerratentester

Baujahr:

Bitfehlerratentester PARALLEX® Plattformsystem Modularer multifunktionaler Mehrkanal Klein anfangen - später wachsen .... verschiedene Funktionen in einem Rahmen mischen .... einkanalig - mehrkanalig .... mit diesem modularen Ansatz ist alles möglich. Bereits als Einkanal-BERT bietet das PARALLEX®-System volle Funktionalität zum Testen von Hochgeschwindigkeitskomponenten. PRBS und Benutzermustergenerierung und Fehlererkennung für 2..13Gbit/s. Aufbau: POW4: Mainframe mit Netzteil GP-4: Modul für GPIB/USB-Kommunikation CLK20: Taktquelle …

LeCroy WaveExpert 100H Sampling-Oszilloskop-System

Baujahr:

Sampling-Oszilloskop-System LeCroy WaveExpert 100H Übersicht WaveExpert 100H, das erste Sampling-Oszilloskop, das Signale erfassen, messen und verarbeiten kann kann nicht physikalisch untersucht werden. Es erfüllt vollständig die Analyse- und Compliance-Anforderungen der langen Serien Datenmuster, die von Standards wie PCI Express der zweiten Generation, Serial ATA, XAUI und 10 Gigabit gefordert werden Ethernet. Die modulare Architektur des Wave Expert unterstützt bis zu …

Charge von 9 Agilent / Keysight N6700B modularen Power-Mainframes mit niedrigem Profil

Baujahr:

Charge von 9 modularen Power-Mainframes mit niedrigem Profil 7 Einheiten N6700B mit N6732B und 2 Einheiten mit N6731B enthalten Schaltschrank Das Keysight N6700B ist ein 400 W 1 HE hoher Mainframe mit modularem 4-Slot-Stromversorgungssystem, das 1 bis 4 DC-Stromversorgungsmodule der N6700-Serie in beliebiger Kombination akzeptiert. Module werden separat bestellt. Das N6700B bietet GPIB, LAN und USB, Schnittstellenstandard und LXI-Konformität. Es …

ESPEC PR-3KP Temperatur- und Feuchtigkeitskammer

Baujahr:

Temperatur- und Feuchtigkeitskammer Mit der Platinous-Serie von Standard-Umweltprüfkammern war es unser Ziel, optimale Bedienungsfreundlichkeit, Sicherheit und Umweltfreundlichkeit zusätzlich zu hervorragender Leistung und Zuverlässigkeit zu erreichen. Sie bietet bemerkenswerte Benutzerfreundlichkeit und Materialrecycling und wird als nahezu ideale Umweltprüfkammer vermarktet. Die Platinous K-Serie ist eine Verkörperung eines Designkonzepts, das sich durch Energieeinsparung, reduzierte Wartung und Verbesserungen auszeichnet Wiederverwertung natürlicher Ressourcen nach der …

KLA-Tencor Opti-2600 Prüf- und Messgerät

Baujahr: 1995

KLA-TENCOR Opti-2600 1995 Dickenmessung Waffelgröße 8

Gebrauchte Kistler 4504A Prüf- und Messgerät

Baujahr:

Kistler Drehmomentmessflansch Typ 4504A Zustand: Neu – Offene Verpackung Ohne Originalverpackung Artikel verfügbar ab: Sofort







Integral Vision System KIF-3000 Prüf- und Messgerät

Baujahr:

INTEGRALES SICHTSYSTEM KIF-3000 Verkaufe "WIE IST, WO IST."



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