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Baujahr: 2000
Baujahr:
Kistler Drehmomentmessflansch Typ 4504A Zustand: Neu – Offene Verpackung Ohne Originalverpackung Artikel verfügbar ab: SofortBaujahr: 2016
Software | windows 7 |
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Baujahr: ~ 2011
Abtastoszilloskopsystem LeCroy WaveExpert 100H Übersicht WaveExpert 100H, das erste Sampling-Oszilloskop, das Signale erfassen, messen und verarbeiten kann kann nicht physikalisch untersucht werden. Es erfüllt vollständig die Analyse- und Compliance-Anforderungen der Langserie Datenmuster, die von Standards wie PCI Express der zweiten Generation, Serial ATA, XAUI und 10 Gigabit gefordert werden Ethernet. Die modulare Architektur des Wave Expert unterstützt bis zu vier …Baujahr: ~ 2012
Testgerät für die Bitfehlerrate PARALLEX® Plattform-System Modulares Multifunktionssystem Mehrkanal Klein anfangen - später wachsen .... verschiedene Funktionen in einem Frame mischen .... Einkanal - Mehrkanal .... alles ist möglich mit diesem modularen Ansatz. Bereits als einkanaliger BERT bietet das PARALLEX® System die volle Funktionalität für den Test von Hochgeschwindigkeitskomponenten. PRBS- und User-Pattern-Generierung und Fehlererkennung für 2..13Gbit/s. Ausstattung: POW4: Mainframe mit …Baujahr: 2014
MKS Path Finder PF1HR4-4312A RF-Match Zustand: renoviert, funktionsfähig Menge: 1 Lieferzeit: 2-4 Wochen Garantie: 3 MonateBaujahr: 2013
Baujahr:
OptoBERT™ OPB4250 4,25 Gbit/s optischer und elektrischer Bit-Fehlerraten-Tester (BERT) Der OPTELLENT OptoBERT™ OPB4250 ist ein kostengünstiger, benutzerfreundlicher Bitfehlerratentester (BERT) zum Testen von Fibre Channel (FC)-Geräten, -Komponenten, -Modulen und -Systemen in Forschungs- und Entwicklungs- und Fertigungsumgebungen sowie bei Feldinstallationen von Speicher Bereichsnetzwerke (SANs). OPB4250 unterstützt 4GFC, 2GFC und 1GFC. Der OPB4250-Tester eignet sich auch ideal für Tests von Gigabit-Ethernet und Infiniband …Baujahr: 2013
Software |
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Baujahr: 2007
Tokyo Electron TEL / CKD RD-9900 Lufttrockner Wurde auf einem TEL P8XL Prober verwendet Jahr 2007Baujahr:
Thermochuck-Controller ThermoChuck-Systeme sind unverzichtbar für die Untersuchung, Charakterisierung und Fehleranalyse von Wafern, Chips und Hybriden bei Temperaturen, die für kommerzielle oder MilSpec-Tests erforderlich sind. Sie ermöglichen auch das Testen von Hochleistungschips bei Umgebungs- und anderen Temperaturen. Die TP03010-Systeme bestehen aus einer einzelnen, im Rack montierbaren Controller-/Wärmetauschereinheit und einer temperaturgesteuerten Vakuumspannvorrichtung. Die Systeme sind mit verschiedenen Spannfutterdurchmessern erhältlich, um unterschiedlichen Anforderungen …