IMS IMPACT 600 Messgerät Hot deal

Baujahr: 2005

- Regelmäßige Kalibrierung im Zeitraum von 2 Jahren - Regelmäßiger Service in einem Zeitraum von einem Jahr - Für ein 18 Jahre altes Gerät in wirklich gutem Zustand. - Letzte Kalibrierung 13.04.2022 Messsystem / Software / Hardware RENISHAW Motorisierter Sondenkopf: PH10T/TP20 Software: Virtual DMIS Version 5.0 PC: Intel Pentium 4 500 MB RAM 80 GB Festplatte Windows XP Professional 19“-Monitor

Sensofar PLU-NEOX 3D-Optical-Profiler-Nanometermessung mit Konfokal-, Interferometrie- und Fokusvariationstechnologie Hot deal

Baujahr: ~ 2012

3D-Optical-Profiler-Nanometermessung mit Konfokal-, Interferometrie- und Fokusvariationstechnologie SENSOFAR 3D PLU-NEOX mit motorisiertem X-Y-Tisch enthält Kinetic System Inc. Isolationstisch D120010 Eine QA/QC- und F&E-Lösung, die auf Geschwindigkeit ausgelegt ist. Nanometergenaue 3D-Profilierung mit 3 optischen Technologien und die Fähigkeit, glatte und glänzende Oberflächen zu messen. Das S Neox misst mit konfokalen, interferometrischen und Fokusvariationstechniken. Zur Messung von Rauheit, Oberflächenbeschaffenheit, Ebenheit und Welligkeit auf …

BUEHLER BETA 49-5102-230 Doppelte Schleif- und Poliermaschine mit variabler Geschwindigkeit und Vektorantriebskopf

Baujahr: 2008

BUEHLER BETA – Twin-Poliergerät mit variabler Drehzahl und Vector Power Head für die metallurgische Probenvorbereitung Der Buehler-Polierer eignet sich für die Mikroskopie wie Korngrößen- und andere Strukturanalysen. Der Die Kombination aus einer Basis mit variabler Geschwindigkeit und einem Kopf mit Lasteinstellung ermöglicht das automatisierte Polieren von metallurgische Proben, die für die Mikroskopie geeignet sind, z. B. zur Korngrößen- und anderen …

Laurell WS-650-23B Schleuderbeschichtungsmaschine

Baujahr:

Schleuderbeschichtungsmaschine Beim Schleuderbeschichten wird eine Flüssigkeit, typischerweise Fotolack, präzise auf ein Substrat, typischerweise einen Halbleiterwafer, aufgetragen und anschließend geschleudert, um einen gleichmäßigen, fehlerfreien Film zu erhalten. Das ursprüngliche, mittlerweile berühmte Spin-Coater-Design von Laurell nutzt eine äußerst präzise Rotationssteuerung in Verbindung mit einer geschlossenen, vollständig optimierten Prozesskammer und überlässt absolut nichts dem Zufall. Der Spincoater Laurell WS-650-23 B ist kompakt und …

Nikon Inexiv vma-2520 Messgerät

Baujahr: 2017

Das Tisch-CNC-Videomesssystem iNEXIV VMA-2520 bietet einen Messbereich von 200 mm x 250 mm x 200 mm (X, Y, Z) sowie eine Optik mit großem Sichtfeld. Sein kompaktes Design ist perfekt, wenn der Platz knapp ist. Dieses Touch-Probe-fähige System ist ideal für eine Vielzahl industrieller Mess-, Inspektions- und Qualitätskontrollanwendungen, bei denen sowohl visuelle als auch taktile Messungen zum Einsatz kommen. Die …

Jeol JFC-1600 Automatische Feinbeschichtungsmaschine

Baujahr:

Automatische Feinbeschichtungsmaschine Dieser Beschichter, der aus einer Haupteinheit und einer Pumpe besteht, dient hauptsächlich der Vorbereitung von Proben für REM Überwachung. Es beschichtet biologische und andere nichtleitende Proben effizient und in kurzer Zeit mit Metallen. Merkmale:  Die Kathode enthält einen Permanentmagneten, um eine effiziente Glimmentladung zum Sputtern zu erzeugen.  Zusätzlich zum Sputterstrom ist es möglich, den Kammerdruck einzustellen. …

International Metrology Systems Ltd. IMS Premier 10.10.8 Messgerät

Baujahr: 2010

Ausgezeichneter Arbeitszustand, neu erworben für das Labor einer Verteidigungsanlage. Ein Bediener arbeitete die ganze Zeit, es wurden regelmäßige Kontrollen durchgeführt. Die Maschine wird in das Zustandsregister vom Typ SI eingetragen. KMG ist angeschlossen, Funktionsprüfung ist möglich. Es gibt eine technische Dokumentation. Die Kosten für eine ähnliche neue Maschine des Herstellers betragen mehr als 13 Millionen Rubel. Die Maschine befindet sich …

Hitachi S-5000H Messgerät

Baujahr: 1998

Messmaschine Hersteller Hitachi Modell S-5000H Jahr 1998

Hitachi S-4800 Messgerät

Baujahr: 2007

Messmaschine Hersteller Hitachi Modell S-4800 SEM mit EDX Jahr 2007

Hitachi S-5000 Messgerät

Baujahr: 1995

Messmaschine Hersteller Hitachi Modell S-5000 Jahr 1995

TEL Formula Nitride Messgerät

Baujahr: 2004

Hersteller TEL Modellformel Nitrid Jahr 2004 WAFERGRÖSSE 12

Gaertner L115C-8 Messgerät

Baujahr: 1995

Ellipsometer Hersteller GAERTNER Modell L115C-8 Jahr 1995

Hitachi WA200 Messgerät

Baujahr:

Hersteller Hitachi Modell WA200 WAFERGRÖSSE 8" SMIFF-Schnittstelle Weitbereichs-Rastersondenmikroskop

Veeco D9000 Messgerät

Baujahr:

Hersteller Veeco Modell D9000 Veeco D9000 Fab Jahr 2001 SMIFF-Schnittstelle Vollautomatisches Rastersondenmikroskop WAFERGRÖSSE 8"

SMC INR-497-001 Messgerät

Baujahr:

SMC INR-497-001 Zweikanal-Thermokühler Gebrauchte, getestete Arbeit Verkauft mit 90 Tagen Garantie

ADVANTEST T5375 Messgerät

Baujahr:

Messmaschine Hersteller ADVANTEST Modell T5375 Zustand: Gebraucht

Hitachi - Messgerät

Baujahr:

Messmaschine Hersteller Hitachi Die Maschine steht in Irland Diese zusätzlichen Informationen sind für dieses Modell Standard. Bitte überprüfen Sie die Angaben bei einem Besuch immer noch einmal Das Hitachi Metrology-Gerät ist ein hochmodernes elektronisches Instrument, das für Präzisionsmess- und Inspektionsanwendungen entwickelt wurde. Dieses spezielle Modell ist für seine Genauigkeit und Zuverlässigkeit bekannt und wird häufig in verschiedenen Branchen eingesetzt, darunter …