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Baujahr:
Volumen der Prüfkammer: 210 Liter Abmessungen der Prüfkammer: 560x570x630 mm Temperaturbereich: -70°C bis +180°C Temperaturunterschied über die Zeit: 2,5 K/min max. Wärmekompensation: 800 WBaujahr: ~ 2002
Wir verkaufen SPEA 4040 für Ersatzteile und Demontage. Die SPEA 4040 ist ein Modell der Flying Probe Testgeräte, hergestellt von SPEA, einem italienischen Unternehmen, das auf automatische Testgeräte (ATE) für die Herstellung von elektronischen Produkten spezialisiert ist.Baujahr:
Keysight/Agilent Technologies 3070 und Medalist i3070 Serie 3 und 5 In-Circuit-Tester Marke: Agilent/Keysight Technologies Verfügbare Modelle: 3070 Serie 3 und Medalist i3070 Serie 5 Typ: In-Circuit-Tester Konfigurieren Sie ein Chassis der Serie 3 oder Serie 5 nach Ihren Wünschen: Optionen mit 2 Steuer- und 2 ASRU-Karten: Einzelbankrahmen mit 2 Modulen Single-Bank-2-Modul-Rahmen mit externem Stromversorgungsschacht Dual-Bank-4-Modul-Rahmen mit externem Stromversorgungsschacht Option mit …Baujahr: 2011
Modell TPO4300A-8C32-4 RS232, IEEE, 10/100 Ethernet-Schnittstelle 208v, 60hz, 1 Phase, 30A Temperaturbereich -80C bis 225C Herstellungsdatum 09/2011